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全光谱CCD物证照相系统

类型:痕迹检验

型号:XZ-HJ-068

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产品功能概述
在英国航天领域应用多年。全波段物证数码红外、紫外增强检验CCD系统,是对提取微弱的现场痕迹、疑难客体照相的突破性进展。光谱响应范围宽、灵敏度高,综合了紫外、可见光、红外三部分,配上多波段光源和滤光片,就可以完成紫外观察照相、痕迹提取、红外照相等特种照相工作。结合专用滤光片可对DFO及茚三酮熏显过的客体有很好的背景扣除效果。


技术特点
背照式感光模式;独特的区域像素读取控制技术,可对图像进行分析和控制区域的曝光参数的读取,可通过在CCD的曝光过程中完成对图像进行加减积分等各种数学运算,实时显示看到被摄指纹的背景扣除效果。


产品特色

波长范围为190nm-1200nm,从紫外到近红外区均具有极高的灵敏度;1024х1024感光像素能使得到的指纹图片放大到A4尺寸依然清晰无锯齿现象。

● 安道尔CCD单个像素面积大,电子饱和度高,灰度级高。安道尔CCD具有16位(65536级)灰度级。

● 背照式感光模式,灵敏度大大高于前照式,探头窗口为单层石英窗口,反射损失小。

● 具有实时CCD背景扣除功能,可去除渗透性客体上复杂的彩色背景。

● 具有积分功能,图像可以进行叠加、背景扣除、图像增强,并且该设备的光谱分析及彩色处理等高图像处理功能非常强。

● 专为刑事照相设计的多个滤光片组合,提供了多种特种照相应用。同时具有半导体热电制冷和水循环冷却,半导体致冷时,热电制冷可达-80℃@(空气),最低值温度-100℃@(水冷)这也是全球能够唯一靠半导体制冷所能达到的最低温度。

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